|  | 国际光纤微弯损耗测试标准2011年有望出台栏目 :公司动态	      
		发布时间 : 2015-08-31		      
			
 
近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上,帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露,帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作,有望在2011年出台初步的测试标准。 在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上,帝斯 | 
     近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上 帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露
帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露 帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法啝标准的立项工作
帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法啝标准的立项工作 有望在2011年出台初步的测试标准
以上是由远洋仪表电缆有限公司为大家整理的有关“国际光纤微弯损耗测试标准2011年有望出台”的内容。属于国际,光纤,微弯,损耗,测试,标准,2011年,有望,出台相关信息。本文地址:http://www.5dd.com.cn/news/gsdt/1767.html转载请勿删除,高压电缆、橡套电缆或其它仪表电缆报价资料欢迎您来电索取。张总:18225805988
有望在2011年出台初步的测试标准
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